高加速应力（HAST）试验是一种用于评估产品在极端环境条件下可靠性和寿命的测试方法。HAST试验的主要目的是对潮湿环境下非密封封装器件进行可靠性评估。通过模拟长时间内所受到的环境应力，利用严酷的温度、湿度及偏置条件来加速水穿过外部保护材料或者沿外部保护材料-金属导体界面渗入，从而评估产品的密封性、吸湿性及老化性能。
HAST试验是在高温高湿的环境下对电子元件进行加速老化测试。通过在受控的压力容器内设定特定的温湿度条件，模拟产品在极端环境下的性能表现。HAST试验能够加速老化过程，如迁移、腐蚀、绝缘劣化和材料老化等，从而缩短产品可靠性评估的测试周期，节约时间和成本。
HAST试验主要分为高加速寿命试验（HALT）和高加速应力筛选（HASS）。HALT属于破坏性试验，主要使用在器件的设计环节，通过逐步升高器件的试验应力，确定器件的工作裕度值，从而得出器件对环境的耐受能力，改进设计。而HASS则是通过人为地对器件施加各种远超过器件设计规范规定的敏感应力组合，快速地将器件内部缺陷或薄弱环节激发出来，从而剔除有缺陷的器件，提高器件使用可靠性。
相对于传统的高温高湿测试（如85°C / 85%RH），HAST试验增加了容器内的压力，使得可以实现超过100℃条件下的温湿度控制。这种条件能够加速温湿度的老化效果，如迁移、腐蚀、绝缘劣化、材料老化等，从而大大缩短可靠性评估的测试周期，节约时间成本。
HAST试验已广泛应用于PCB、IC半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件等行业。特别是在PCB、半导体、太阳能、显示面板等产品中，HAST高加速老化测试已成为某些行业的标准，作为标准高温高湿测试（如85C/85%RH-1000小时）的快速有效替代方案。
高加速应力（HAST）试验是一种有效的可靠性评估方法，能够模拟产品在极端环境下的性能表现，加速老化过程，缩短测试周期，节约时间和成本。随着电子产品的不断发展和应用领域的不断拓展，HAST试验将在更多领域得到应用和发展。
zonglen HAST高加速寿命试验箱 设备特点：
标准设计更安全，内胆圆弧设计防止结露滴水，符合国家安全容器规范
多重保护功能，两道高温保护装置、湿度用水断水保护、超压保护
稳定性更高:内置自研PID控制算法，确保温度、湿度以及压力值准确度
湿度自由选择:饱和与非饱和自由设定
智能化高:USB数据、F曲线导出保存